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XU-100專精特新型膜厚儀_涂鍍層測厚儀_膜厚測試儀_光譜測厚儀

全新下照式設計、性價比高、適用性強,輕松快速解決各種平面件、異形件及電鍍液的檢測,且能自動判定測試結果。

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XU-100是一款高性價比型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀,全新下照式設計、性價比高、適用性強,輕松快速解決各種平面件、異形件及電鍍液的檢測,且能自動判定測試結果。

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1)搭載微聚焦加強型X射線發生器和先進的光路轉換聚焦系統

2)擁有無損變焦檢測技術,手動變焦功能,可對各種異形凹槽件進行無損檢測,凹槽深度范圍0-30mm

3)核心EFP算法,可對多層多元素,包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析(釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度)

4)配備高精密微型移動滑軌,可實現多點位、多樣品的精準位移和同時檢測

5)可同時分析23個鍍層,24種元素,測量元素范圍:氯Cl(17)- 鈾U(92),涂鍍層分析范圍:鋰Li(3)- 鈾U(92),涂鍍層最低檢出限:0.005μm

6)人性化封閉軟件,自動判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作

7)配有微光聚集技術,最近測距光斑擴散度10%

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XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設計,搭配微聚焦X射線發生器和高集成垂直光路系統,以及高敏變焦測距裝置,對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。

檢測各種金屬鍍層,檢出限可達0.005um,最近測距光斑擴散度10%以內,凹槽深度測量范圍可達0-30mm是一款測量鍍層厚度性價比高、適用性強的機型

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XU-100廣泛應用于電鍍層分析、緊固件行業、五金行業、汽車零部件、配飾厚度分析、電子元器件等多種行業

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